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      • PCT高壓加速壽命試驗
        PCT高壓加速壽命試驗

        PCT高壓加速壽命試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。

        時間:2020-06-15型號:瀏覽量:787
      • 飽和型加速壽命試驗機
        飽和型加速壽命試驗機

        飽和型加速壽命試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。

        時間:2020-06-15型號:瀏覽量:849
      • PCT加速老化試驗機
        PCT加速老化試驗機

        PCT加速老化試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

        時間:2020-05-29型號:瀏覽量:854
      • PCT高壓壽命試驗機
        PCT高壓壽命試驗機

        PCT高壓壽命試驗機主要作用是用來測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體.

        時間:2020-05-29型號:瀏覽量:829
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